专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]接触开口的制造方法-CN200610005889.8无效
  • 陈高惇;萧立东 - 力晶半导体股份有限公司
  • 2006-01-19 - 2007-07-25 - H01L21/311
  • 一种接触开口的制造方法。首先于基底上形成一层掩模层,再于掩模层中沿两个方向分别形成多个沟槽。此两个方向互相交错。沟槽的深度不大于掩模层的厚度,但于沟槽与沟槽交错处的掩模层会形成开口,此开口暴露基底。移除开口所暴露的部分基底,以在基底中形成接触开口。在光刻工艺中,由于形成线状图案较形成点状图案容易控制,因此可精确地掌控接触开口的尺寸。
  • 接触开口制造方法
  • [发明专利]栅极接触开口的蚀刻轮廓控制-CN202110637591.3在审
  • 熊德智;王鹏;林焕哲;吴俊德 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2021-06-08 - 2022-01-18 - H01L21/8234
  • 本公开涉及栅极接触开口的蚀刻轮廓控制。一种方法包括:在半导体衬底之上形成栅极结构;回蚀刻该栅极结构;在经回蚀刻的栅极结构之上形成栅极电介质帽盖;在栅极电介质帽盖之上沉积抗蚀刻层;在抗蚀刻层之上沉积接触蚀刻停止层,并在接触蚀刻停止层之上沉积层间电介质(ILD)层;执行第一蚀刻工艺以形成栅极接触开口,该栅极接触开口延伸穿过ILD层并在到达抗蚀刻层之前终止;执行第二蚀刻工艺以加深栅极接触开口,其中,第二蚀刻工艺以比蚀刻接触蚀刻停止层慢的蚀刻速率来蚀刻抗蚀刻层;以及在经加深的栅极接触开口中形成栅极接触件。
  • 栅极接触开口蚀刻轮廓控制
  • [发明专利]开口接触窗的制造方法-CN200510129715.8有效
  • 郑懿芳;周孝邦 - 联华电子股份有限公司
  • 2005-12-01 - 2007-06-13 - H01L21/311
  • 一种开口接触窗的制造方法。在开口的制造过程中,在于介电层上形成光致抗蚀剂层以定义开口图案之前,先对裸露的介电层表面进行一处理步骤以形成一膜层,可防止因介电材料成分外逸而与光致抗蚀剂层产生反应,进而造成显影不完全的问题。另一方面,在形成接触窗的制造过程中,在接触开口表面形成一阻障层之前,先对裸露的介电层表面进行一处理步骤以形成一膜层,可防止因介电材料成分外逸而与阻障层产生反应,进而使阻障层产生缺陷的问题。
  • 开口接触制造方法
  • [发明专利]接触开口的形成方法-CN201110412986.X无效
  • 蔡孟峰;张宜翔;林嘉祺;陈奕炘;吴家铭 - 力晶科技股份有限公司
  • 2011-12-13 - 2013-06-05 - H01L21/768
  • 本发明公开一种接触开口的形成方法,其包括下列步骤。首先,提供基底,基底包括密集区与独立区。接着,在基底上形成材料层。然后,在密集区中的材料层上形成多个牺牲图案,且在相邻两个牺牲图案之间具有第一开口。之后,移除牺牲图案,而于相邻两个间隙壁之间形成第二开口。再者,形成填满第二开口的平坦层。随后,在平坦层中形成第一狭缝,第一狭缝暴露出位于第二开口下方的部分材料层。继之,移除由第一狭缝所暴露出的部分材料层,而在材料层中形成多个第三开口
  • 接触开口形成方法
  • [发明专利]形成接触开口的蚀刻方法-CN200510079420.4无效
  • 周珮玉 - 联华电子股份有限公司
  • 2005-06-21 - 2006-12-27 - H01L21/311
  • 一种形成接触开口的蚀刻方法。提供具有至少例如栅极结构的一元件的基底,基底上依序形成有一金属硅化物层、一保护层、一间介电层、一掩模层与一图案化的光致抗蚀剂层。蚀刻形成接触开口的过程中,因金属硅化物层被保护层所覆盖且光致抗蚀剂去除步骤于移除部份保护层前进行,金属硅化物层不会损伤或劣化;且所采用的光致抗蚀剂去除步骤可有效率地移除光致抗蚀剂而较无光致抗蚀剂残留的问题
  • 形成接触开口蚀刻方法
  • [发明专利]接触开口的形成方法-CN200610091526.0无效
  • 纪盈州;王荣铎;杜英宗;徐朝焕 - 中华映管股份有限公司
  • 2006-06-06 - 2007-12-12 - H01L21/768
  • 一种接触开口的形成方法,此方法是先提供一基底,且此基底上至少具有一介电层。接着,在介电层上形成光阻层,然后再进行等离子体蚀刻制程,以于光阻层中形成一第一开口,并同时在介电层中形成一第二开口。其中,第一开口位于第二开口上方,且第一开口的底部孔径小于第二开口的顶部孔径。之后,将光阻层从介电层上移除。依此方法可形成暴露出至少有一部分不会被氧化的接触开口,以避免此导电图案与填入接触开口的导电层间的阻值过高。
  • 接触开口形成方法
  • [发明专利]开口式连接器插孔接触-CN201711090451.9在审
  • 许军刚;杨小锋 - 武汉德泰纳新能源技术有限公司
  • 2017-11-08 - 2018-04-20 - H01R24/20
  • 本发明公开了一种开口式连接器插孔接触件,其包括接连接部和弹性插接部,所述接连接部一端轴向向外延伸出多个周向分布设置的弹性卡条,所述弹性卡条合围形成弹性插接部,所述弹性插接部的内径沿弹性卡条的延伸方向逐渐减小通过设置所述弹性插接部的内径沿弹性卡条的延伸方向逐渐减小,其最大内径与插针的外径一致,使得当所述插针插入所述弹性插接部中时,所述弹性卡条呈水平设置,其内壁与插针的外壁贴合设置,形成面接触,从而提高了导电性能,并减小了接触电阻,其相比同样规格的接触件结构更加紧凑,可以在较大范围内制作不同孔径大小的接触件,并能通载更大电流及信号。
  • 开口连接器插孔接触

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